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等离子体光谱
从等离子体内部发出的从红外到真空紫外波段的电磁辐射谱。它携带了大量有关等离子体复杂的原子过程的信息。利用光谱学的原理和实验技术,并借助于等离子体的理论模型,测量分析等离子体光谱,对于等离子体的研究是有重要意义的。包括
美国利曼Leeman Prodigy
等离子体光谱主要是线状谱和连续谱。线状谱是等离子体中的中性原子、离子等由其高能级的激发态跃迁到较低能级时所产生的,单个粒子发射的谱线强度主要决定于:①原子或离子的外层电子处于上能级的几率,②这种电子从上能级跃迁到下能级的跃迁几率,③光子在逸出等离子体之前被再吸收的几率。但谱线的总强度与电子和离子的密度和温度有关,每条谱线有它自己的强度分布规律,因此从谱线强度的测量,结合理论模型和上述光谱中的原子数据,可以得到电子、离子的密度、温度等信息。根据多普勒效应,从谱线波长的移动可确定等离子体的宏观运动速度。连续谱是电子在其他粒子的势场中被加速或减速而产生的。从连续光谱强度的测量,也可得到电子密度、温度等数据。变化
等离子体光谱
随着等离子体温度的升高,如到达10度以上,原子的外层电子逐渐被剥落,形成各种离子态的离子,如CⅣ、CⅤ、OⅥ、NⅤ、FeⅪⅩ、TiⅪⅩ(Ⅰ为中性原子,Ⅱ、Ⅲ、Ⅳ、…为失去 1、2、3、…个外层电子的离子)等。这些高次电离的离子,其线状谱大都处在远紫外波段。连续谱的情形,也是随着温度的升高,其发射强度的极大值往短波方向移动。对于高温等离子体,如目前聚变高温等离子体,其工作物质是氢及其同位素氘和氚,但不可避免地会含有一些杂质,如C、O、Fe、Ti、Mo、W等元素,温度已达10度以上,这些杂质离子的光谱大部分是在真空紫外及 X射线波段。分析这些较重杂质的高次电离谱线的出现时间和位置,比较它们的强度,对这样高的温度的等离子体的参量测量、输运过程和等离子体的辐射损失等的研究都是很重要的。尤其是对类氢、类氦离子的谱线强度的分析,更为有用,因为对于这些离子的原子数据较为完全。形状
等离子体光谱
等离子体光谱的另一个重要方面,是谱线的形状或轮廓。光谱线并不是“线”,而是有一定宽度的轮廓。在等离子体光谱中,谱线增宽的机制较复杂,其中有两个因素比较重要,就是多普勒效应和斯塔克效应。等离子体中的各种粒子处于无规热运动状态,它们相对于观察者具有各种方向和大小的速度,就会产生多普勒频移,因此,所发射的光谱线不再是“线”,而是按波长的某种分布,即谱线“变宽”了,这就是多普勒增宽。多普勒增宽同离子速度分布有关,如这种离子的速度呈麦克斯韦分布,则与其离子温度有关。用多普勒增宽测量高温等离子体中的离子温度是一种常用的方法,离子温度可用下式计算: ,式中k为玻耳兹曼常数,Ti为离子温度,A为所测原子或离子的原子量,墹λ为谱线轮廓在半高度处的宽度。计算时要扣除其他因素引起的增宽。
效应
另一个重要效应是斯塔克效应。等离子体中的每个发光粒子都处于其他粒子所带电荷产生的电场中,由于电场的作用,这个粒子所发射的光谱发生分裂,这就是斯塔克效应。分裂情况同等离子体中的粒子密度有关。带电粒子产生的微观电场是复杂的,引起各式各样的斯塔克分裂,叠加的结果,使光谱线变宽,形成斯塔克增宽。在温度较低(几个电子伏)、密度较高(大于10τm )的等离子体中,常用斯塔克增宽来测量电子密度。的斯塔克增宽理论较为完整,理论指出这类斯塔克增宽谱线轮廓的半高全宽度与成正比,Ne为等离子体的电子密度。
聚变装置的高温等离子体往往处于强磁场中,会引起光谱线分裂,这就是光谱学中熟知的塞曼效应。在一些大型聚变装置中,磁场强度为几个特斯拉(T),分裂正比于磁场强度B和波长λ的二次方的乘积,如
,时,则塞曼分裂。根据谱线塞曼分裂的大小可推算等离子体中的磁场强度。辐射
如上所述,测量等离子体的辐射,如谱线强度、谱线轮廓以及谱线的分裂、位移等后,就可以得到等离子体的一些参量,如等离子体成分、温度、密度等。这方面的工作构成等离子体光谱诊断学,是等离子体诊断学的一个重要组成部分。
相关知识
特点光学系统:全新竖式光室设计,全封闭驱气型,采用精密温控恒温系统,高能量中阶梯光栅石英棱镜交叉色散内光路,波长和级次二维色散,所有光学元件均使用全反射球面镜,保证高光通量和低图象失真。
光栅:采用超高分辨干涉刻制技术,52.91条/mm,63.5闪耀角
棱镜:交叉色散,采用双通过设计确保成像质量,9.5角,超纯紫外熔融石英
波长覆盖:
全波长覆盖,Al 167.120nm测试可获得更高紫外灵敏度,对于K 766.490nm和Na 818.326nm长波同样性能优异焦距: 383nm,紧凑型光室
分辨率0.007nm在200nm处的光学分辨率,采用大衍射角高的光谱级次,在短焦距下可获得高分辨率
光路:驱气型光室,可以是氩气或者氮气,驱气量
分钟,典型1L/分钟即可获得优异的紫外性能,特别对于As和P的测定。外光路设计,对于垂直炬可选择观测高度,对于双向炬可选择观测方式波长校准:采用C、N和Ar线自动波长校准程序,确保长期波长稳定性
光室恒温:
精密光室恒温,恒温速度小于20分钟检测器新一代RACID86电荷注入式检测器(CID)是高性能的固体成像系统。热电的CID是能够传输高反差/低噪音图象的加强型电荷传输器件,它可以对分析范围内的所有波长进行定性定量,而决无电荷溢出(Blooming)现象。
检测器模式:随机读取积分(RAI)
经选择的分析波长以最佳信噪比的方式同时积分,这样光所产生的电荷量可以保持在CID的线性范围内。它是利用了CID所独有的非破坏性读取(NDRO) 功能而获得的。NDRO 允许观测任意曝光点的任何像数单元上的信号。在这种方式下,像数与像数之间的读出频率随着发射强度的实时观测而各不相同,因而得到最宽的动态范围线性。
阵列尺寸: 291,600个独立寻址检测单元,
阵列连续覆盖所有可用波长像数尺寸:
量子化效率: 200nm紫外区可达65%以上
石英窗:前置成角度封闭式石英窗,提高CID可靠性并降低杂散光
检测器冷却:高效三级半导体制冷,制冷温度-45℃,冷却时间小于3分钟,气体和冷却水安全连锁
等离子体观测:
观测方式垂直观测:等离子体使用高效氟化镁涂层镜子以垂直模式直接观测。入射光经封闭驱气的外光路,防腐蚀并可获得最佳的紫外区光谱性能。观测高度可以由软件自动最佳化,也可由操作者进行选择。
双向观测:等离子体可以水平观察以适应于最低检出限的应用要求,通过附加的垂直观测方式减少基体效应。两种观察方式可以由计算机全自动控制。观察方式的选择可以是全垂直、全水平或根据谱线灵活选择。
自动准直水平观测中心通道。
独特的SiN锥接口技术有效去除尾焰,并且保持良好的紫外性能。
等离子体源:固态RF发生器
频率: 27.12MHz
操作模式:全自动软件控制点火与操作,直接耦合变频阻抗控制自动调谐。功率稳定性优于0.1%
功率输出:
(确认值1500),计算机控制连续可调输出效率:大于78%,适用于包括甲醇等有机样品在内的各种样品分析
冷却方式:水冷和风冷
进样系统:
雾化器:玻璃同心圆雾化器
SeaSpray高盐雾化器、V型槽雾化器、耐HF酸雾化器和超声雾化器可选配
雾化室:玻璃漩流雾化室,配置垂直和水平不同的连接管
蠕动泵:高精度12滚轮3通道蠕动泵,0-125转/分钟连续可调。当等离子体熄火时处于Standby状态防止泵管损坏。
炬管:配置1.5mm垂直或2.0mm水平中心管的可拆卸式石英炬管。可选配1.0,1.5,2.0mm石英中心管和2.0mm耐HF酸刚玉中心管。预准直卡式炬管设计,方便快速更换,无需拆卸冷却气和辅助气气管。
气体控制:雾化器气体,冷却气和辅助气三路独立气体控制
雾化器气体:采用MFC质子流量计控制,连续可调。
冷却气: 12L/分钟
辅助气: 0,0.5,1.0,1.5L/分钟可调
操作系统:Microsoft WindowsTM 2000或XP
iTEVA软件:iCAP6000系列的iTEVA操作软件提供对仪器所有功能全控制,包括等离子体点火,气体流量,观测方式和安全连锁的监控。
日常分析软件:在任何像数位置或指定的子阵列区域中进行定量分析
自动或手动实时背景校正点选择
缺省的系统参数设置和全过程程序的执行
对于垂直观测,用户可选等离子体观测区域或全自动最佳化
分析过程中子阵列数据采集,用于条件优化后的数据后处理
多重光谱图叠加显示方式,简化方法的开发
全谱“指纹”摄谱研究模式:
拍摄整个发射光谱或部分谱图,以彩色或灰度显示发射强度,2D线性或对数(强度与波长)显示
全谱线或峰值识别,全互动式谱线库,评价潜在的谱线干扰,进行元素定性分析
同一材料的全谱图比对和基体或空白的减扣模式
自动进样器模式:全兼容自动进样器使得无人操作和关机。基于HTML样品文件,灵活控制定制样品放置位置。
质量控制检查:针对于QC表,自动检查QC样确保整个测试过程的重复性和准确度
校正模式:多点校正曲线,每条校正曲线的标准点不受无限制
可选拟合类型:线性,曲线, 全拟合,
曲线拟合显示:线性或对数,自动调节量程
报告软件:标准报告格式,用户可根据样品名称、方法名称、日期、时间、元素、浓度、强度、平均值、标准偏差、相对标准偏差等来过滤报告输出。使用第三方软件定制报告生成,兼容SQL服务器,DDE-格式数据库等无限制数据库功能
可选格式:分析数据可以复制到商用用户数据管理器,如电子表格,Word文字处理,图形程序等。
兼容附件:iCAP 6300可以兼容包括标准进样系统、有机和挥发性有机进样系统、高盐进样系统和耐HF酸进样系统在内的所有进样附件包。另外兼容:
自动进样器: Cetac ASX260、ASX520、EXR-8智能化自动进样器
超声雾化器: Cetac U5000AT+,对于水样的灵敏度可提高10-15倍
氢化物发生器:在线-氢化物组件分样品、硼氢化钠和废液独立通道,可 使As、Sb、Bi、Hg、Sn和Te的灵敏度提高8-10倍